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Partikelmeßtechnik

  • Photolumineszenzspektroskopie
  • Scheibenzentrifuge
  • Siebanalyse
  • Probenteiler
  • Röntgendiffraktometer (XRD)
  • Laser-Beugungs-Spektroskopie: 0,1-1750 µm
  • Photonenkorrelationsspektroskopie (PCS, QELS): 3 nm - 1 mm
  • Elektroakustische Analyse (Zeta-Potential und Partikelgröße)
  • Sedimentationsanalyse (Sedigraph): > 0,5 µm
  • Coulter Multisizer II: > 0,5 µm
  • SMPS: 10 nm - 1 µm
  • CGS 3 für statische und dynamische Lichtstreuung
  • Mikroskop mit Bildanalyse

Charakterisierung und Modifikation von Oberflächen

  • Ellipsometrie
  • Optische Pinzette
  • Langmuirfilmwaage
  • REM
  • AFM
  • BET Analyse (Poren > 2 nm)
  • Hg-Porosimetrie (Poren > 2 nm)
  • FT-IR-Spektroskopie
  • Second Harmonic Generation Spektroskopie
  • Sum Frequency Generation Spektroskopie
  • Thermogravimetrie
  • Randwinkelmeßgerät
  • Zetasizer Nano (Zeta-Potential, DLS, Messung des Molekulargewichtes und des Virialkoeffizienten)
  • Analyse von Oberflächenladung und Strömungspotential
  • Dip-coating-Apparatur einschl. Ultrapräzisionswaage
  • Spin-Coater

Chemische Analyse

  • Gaschromatographie (GC) mit FID, WLD, SPME
  • High Performance Liquid Chromatography (HPLC)
  • UV/VIS - Spektroskopie

Materialeigenschaften

  • Dichteschwinger
  • Pyknometer
  • Rotationsviskosimeter
  • Mikrohärteprüfgerät
  • Differential Scanning Calorimeter (DSC)
  • Dynamisch-Mechanischer Analysator (DMA)

Adsorption

  • Tensiometrie
  • Quarzkristall-Mikrowaage
  • i-HPLC zur Bestimmung von Adsorptionsgleichgewichten
  • i-GC zur Bestimmung von Adsorptionsgleichgewichten

Charakterisiserung von Mehrphasenströmumgen

  • Rheometer
  • Röntgen-Tomographen (60-160 kV)
  • Phasen-Doppler-Anemometer
  • Laser-Doppler-Anemometer
  • Particle-Image-Velocimetry
  • Strömungsvisualisierung mittels Laserlichtschnitt
  • Meßdatenerfassungsgeräte für Druck, Temperatur und Durchfluß
  • LIF-Anlage (laserinduzierte Fluoreszenz zur Bestimmung von Konzentrationsschwankungen)
  • Kapazitive Sonden für Konzentrationsmessungen

Zerkleinern / Klassieren / Abscheiden

  • Einzelkorn-Prallzerkleinerung
  • Einzelkorn-Walzenmühle
  • Einzelkornschleifapparatur
  • Multiprozeßanlage (AFG 100, ZPS 50, ATP 50)
  • Rührwerkskugelmühle mit on-line Messtechnik
  • Explosionsgeschützte Rührwerkskugelmühle
  • Elektrofilter, Schlauchfilter

Partikelsynthese/Kristallisation

  • Kristallisatoren: MSMPR, Batch, Fluid bed, Y-Mischer
  • Ultraschall - Dichtemessung
  • Übersättigungssensoren
  • Reaktoren für die Gasphasensynthese
    • Plasmareaktor
    • Hochtemperatur-Kurzzeit-Sinteranlage mit Heißwandreaktor

Technikumsanlagen

  • Hydraulische Förderung
  • diverse Druckwirbelschichten für statische Drücke bis 64 bar
  • Suspendierrührkessel im halbtechnischen Maßstab

Software

  • Computational Fluid Dynamics (CFX)
  • COSMO-RS (statistische Thermodynamik)
  • Labview basierter Löser für Populationsbilanzen (in Kooperation mit BASF)
  • PARSIVAL (Populationsbilanzen)

Sonstiges

  • Glove box
  • Hochspannnungsaggregate
  • Impedanzspektrometer
  • Ringschergerät, Jenike-Scherzelle
  • Labor- und Technikumsanlagen zum
    • Sichten
    • Sieben
    • Agglomerieren (Wirbelschicht)
    • Mischen von Feststoffen

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